组件 组件常见EL缺陷 组件EL（Electroluminescence）检测中文【wén】名为【wéi】电致发【fā】光缺【quē】陷检测，是根据硅材料的电致【zhì】发光原理【lǐ】对组件【jiàn】进行缺陷检测。给【gěi】晶体硅电池组件通入【rù】9-22.5倍Isc的【de】正向电流，硅片会发【fā】出1000-1100nm的【de】红【hóng】外光，同时摄像头可以捕捉到这 9-22 / 光伏
