组件 组件常见EL缺陷 组件EL（Electroluminescence）检测中【zhōng】文名为电致发光缺【quē】陷检【jiǎn】测，是根据硅材料的电【diàn】致【zhì】发光【guāng】原理对组件【jiàn】进【jìn】行缺陷检测。给晶体硅【guī】电池组件通入9-22.5倍Isc的【de】正向电流【liú】，硅片会发出1000-1100nm的【de】红外光，同【tóng】时摄像头可【kě】以捕【bǔ】捉到这 9-22 / 光伏
