组件 组件常见EL缺陷 组件EL（Electroluminescence）检测【cè】中文名为电致发光缺陷检测，是【shì】根据【jù】硅材【cái】料的电致发光【guāng】原理对组【zǔ】件进行缺陷检测【cè】。给晶【jīng】体硅电池组件【jiàn】通入9-22.5倍Isc的正向【xiàng】电流，硅片会发出1000-1100nm的红外【wài】光【guāng】，同【tóng】时摄像头可以【yǐ】捕捉到这 9-22 / 光伏
