组件 组件常见EL缺陷 组件EL（Electroluminescence）检测中文名为电致发光【guāng】缺【quē】陷检测，是根据硅材料的【de】电致发光原理对【duì】组【zǔ】件进行缺陷检测。给晶体硅电池【chí】组件通入【rù】9-22.5倍Isc的【de】正向电流【liú】，硅片会发出1000-1100nm的【de】红外光，同时摄像头可以捕捉到【dào】这【zhè】 9-22 / 光伏
